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    長谷川竜生，釜野勝，上原信知
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蛍光Ｘ線分析の実際 貸出可

中井泉／編 -- 朝倉書店 -- 2005.10

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
一般資料 433.5 /ﾅｶ/ 00109394765 図書 貸出可 利用可 iLisvirtual

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マーク種別 JPマーク
マーク番号 20907106
書名 蛍光Ｘ線分析の実際
書名ヨミ ｹｲｺｳ ｴｯｸｽｾﾝ ﾌﾞﾝｾｷﾉ ｼﾞｯｻｲ
著者名 中井泉 ／編, 日本分析化学会Ｘ線分析研究懇談会 ／監修  
著者名ヨミ ﾅｶｲ ｲｽﾞﾐ , ﾆﾎﾝﾌﾞﾝｾｷｶｶﾞｸｶｲ  
出版地 東京
出版者 朝倉書店
出版年 2005.10
頁数・図版 ２４２ｐ
大きさ ２６ｃｍ
一般注記 文献あり　索引あり
ISBN 4-254-14072-X 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
本体価格 ５７００円
NDC分類(8版) 433.5
NDC分類(9版) 433.57
件名 エックス線分光分析
内容紹介 試料調製、スペクトルなどの基礎から有害元素分析、文化財の非破壊分析などの応用事例を中心にわかりやすく解説。蛍光Ｘ線分析法に必要なあらゆる事項を網羅した、蛍光Ｘ線分析に携わる人に最適な１冊。
著者紹介 １９５３年東京都生まれ。８０年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了。現在、東京理科大学理学部応用化学科教授。

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