平木 昭夫/著 -- オーム社 -- 1994.09

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
書庫一般 549.8 /ヒラ/ 00104851485 図書 貸出可 利用可 iLisvirtual

資料詳細

マーク種別 JPマーク
マーク番号 95002276
書名 表面・界面の分析と評価
書名ヨミ ヒョウメン カイメンノ ブンセキトヒョウカ
著者名 平木 昭夫 /著, 成沢 忠 /著  
著者名ヨミ ヒラキ アキオ , ナルサワ タダシ  
出版地 東京
出版者 オーム社
出版年 1994.09
頁数・図版 141p
大きさ 22㎝
叢書名・叢書番号 応用物理学シリーズ・
副叢書名 専門コース
一般注記 叢書の編者:応用物理学会
ISBN 4-274-12976-4 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
本体価格 3500円
NDC分類(8版) 549.8
件名 半導体
内容細目 各章末:参考文献

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(株)トーハンのデータです。