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新ＴＯＥＩＣテスト一発で正解がわかる 基礎編 貸出可

キム・デギュン／著 -- 旺文社 -- 2006.12

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
一般資料 830.7 /ｷﾑ/ 00110004455 図書 貸出可 利用可 iLisvirtual

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マーク種別 JPマーク
マーク番号 21156262
書名 新ＴＯＥＩＣテスト一発で正解がわかる
書名ヨミ ｼﾝ ﾄｰｲｯｸﾃｽﾄ ｲｯﾊﾟﾂﾃﾞ ｾｲｶｲｶﾞﾜｶﾙ
著者名 キム・デギュン ／著  
著者名ヨミ ｷﾑ ﾃﾞｷﾞｭﾝ  
巻次 基礎編
出版地 〔東京〕
出版者 旺文社
出版年 2006.12
頁数・図版 ２８７ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般注記 付属資料（ＣＤ２枚　１２ｃｍ）　付（６３ｐ）：解答・解説
ISBN 4-01-094081-6 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks
ISBN(新) 978-4-01-094081-5
本体価格 ２０００円
NDC分類(8版) 830.79
NDC分類(9版) 830.79
件名 英語
内容紹介 ＴＯＥＩＣ講師のカリスマが、「英語が苦手な受験者が何をすべきか」にこだわって書き上げた自信作。基礎単熟語・文法から学習でき、問題を解くコツや問題のパターンもよくわかる。苦手なイギリス英語も克服できる。
著者紹介 韓国高麗大学英語英文学科、同大学院英語英文学科卒。現在、韓国ＹＢＭ　ｅ－４ｕ語学学校のＴＯＥＩＣ専門講師。ラジオやインターネットなどのさまざまな媒体でも活動を展開。ＴＯＥＩＣ講師のカリスマ。

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※内容紹介、著者紹介は（株）日販図書館サービスおよび
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