阿川敏恵/著 -- 技術評論社 -- 2006.2

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所蔵

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
一般資料 830.7 /アカ/ 00109479219 図書 貸出可 利用可 iLisvirtual

資料詳細

マーク種別 JPマーク
マーク番号 20968383
書名 TOEICテストで730点を目指そう
書名ヨミ トーイック テストデ ナナヒャクサンジッテンオ メザソウ
副書名 資格があれば将来が見えてくる
著者名 阿川敏恵 /著, 涌井陽子 /著  
著者名ヨミ アガワ トシエ , ワクイ ヨウコ  
出版地 東京
出版者 技術評論社
出版年 2006.2
頁数・図版 207p
大きさ 23cm
叢書名・叢書番号 終身現役計画シリーズ・1
一般注記 付属資料(CD1枚 12cm)
ISBN 4-7741-2639-X 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
本体価格 1880円
NDC分類(8版) 830.79
NDC分類(9版) 830.79
件名 英語
内容紹介 セカンドライフの過ごし方を考えている年代を対象に、TOEICのスコア利用法や、受験に向けての学習スケジュール、パートごとの勉強法などを解説。2006年からの新テストにも対応。CDは館外貸出可。
著者紹介 【阿川】茨城大学非常勤講師などを経て、現在、恵泉女学園大学専任講師。専門は英語教育学。実用英語技能検定1級合格、TOEIC985点取得。著書「文献からみる第二言語習得研究」「自己診断テスト付英文法を確実にマスター」。

※内容紹介、著者紹介は(株)日販図書館サービスおよび
(株)トーハンのデータです。