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ＴＯＥＩＣテストやさしいリスニング 最頻出パターンで学ぶ「聞きとり」のコツ 貸出中

森川美貴子／著 -- ダイヤモンド社 -- 2007.2

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
１階一般 830.7 /ﾓﾘ/ 00109761918 図書 貸出可 貸出中 iLisvirtual

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マーク種別 JPマーク
マーク番号 21190906
書名 ＴＯＥＩＣテストやさしいリスニング
書名ヨミ ﾄｰｲｯｸ ﾃｽﾄ ﾔｻｼｲ ﾘｽﾆﾝｸﾞ
副書名 最頻出パターンで学ぶ「聞きとり」のコツ
著者名 森川美貴子 ／著, 宮野智靖 ／監修  
著者名ヨミ ﾓﾘｶﾜ ﾐｷｺ , ﾐﾔﾉ ﾄﾓﾔｽ  
出版地 東京
出版者 ダイヤモンド社
出版年 2007.2
頁数・図版 ２６３ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般注記 付属資料（ＣＤ２枚　１２ｃｍ）
ISBN 4-478-98089-6 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks
ISBN(新) 978-4-478-98089-7
本体価格 ２１００円
NDC分類(8版) 830.79
NDC分類(9版) 830.79
件名 英語
内容紹介 Ｐａｒｔ　１～Ｐａｒｔ　４の「解答へのアプローチ」＆「傾向と対策」で頻出パターンを徹底分析。リスニング完全模擬テストで予想スコアを判定。米・英・加・豪の４カ国音対応ＣＤ２枚付き。新テスト対応。
著者紹介 【森川】山口県生まれ。関西大学文学部卒。ロイヤルメルボルン工科大学およびＡｕｓｔｒａｌｉａｎ　Ｃｏｌｌｅｇｅ　ｏｆ　Ｔｒａｖｅｌ　ａｎｄ　Ｈｏｓｐｉｔａｌｉｔｙへ留学。現在は、大学や英語学校においてＴＯＥＩＣ／ＴＯＥＦＬ講座、英会話講座等を担当している。

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※内容紹介、著者紹介は（株）日販図書館サービスおよび
（株）トーハンのデータです。