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新ＴＯＥＩＣテスト一発で正解がわかる 貸出可

キム・デギュン／著 -- 旺文社 -- 2006.1

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
一般資料 830.7 /ｷﾑ/ 00109494755 図書 貸出可 利用可 iLisvirtual

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マーク種別 JPマーク
マーク番号 20974531
書名 新ＴＯＥＩＣテスト一発で正解がわかる
書名ヨミ ｼﾝ ﾄｰｲｯｸ ﾃｽﾄ ｲｯﾊﾟﾂﾃﾞ ｾｲｶｲｶﾞ ﾜｶﾙ
著者名 キム・デギュン ／著  
著者名ヨミ ｷﾑ ﾃﾞｷﾞｭﾝ  
出版地 〔東京〕
出版者 旺文社
出版年 2006.1
頁数・図版 ３１９ｐ
大きさ ２１ｃｍ
一般注記 付属資料（ＣＤ１枚　１２ｃｍ）
ISBN 4-01-093490-5 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
本体価格 ２０００円
NDC分類(8版) 830.79
NDC分類(9版) 830.79
件名 英語
内容紹介 新ＴＯＥＩＣにどう対処してよいのかわからない受験者、これからＴＯＥＩＣの勉強を始めようとしている受験者のためのガイド。ＴＯＥＩＣ研究の第一人者が、スコアアップの秘訣を大公開。万全の対策ができる１冊。
著者紹介 韓国高麗大学英語英文学科、同大学院英語英文学科卒。現在、韓国ＹＢＭ　ｅ－４ｕ語学学校のＴＯＥＩＣ専門講師。ラジオやインターネットなどのさまざまな媒体でも活動を展開。ＴＯＥＩＣ講師のカリスマ。

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※内容紹介、著者紹介は（株）日販図書館サービスおよび
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