井芹 洋輝/著 -- 技術評論社 -- 2025.6

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
一般資料 007.6 /イセ/ 00113057793 図書 貸出可 貸出中 iLisvirtual

資料詳細

マーク種別 JPマーク
マーク番号 24134508
書名 ソフトウェアテスト徹底指南書
書名ヨミ ソフトウェア テスト テッテイ シナンショ
副書名 開発の高品質と高スピードを両立させる実践アプローチ
著者名 井芹 洋輝 /著  
著者名ヨミ イセリ ヒロキ  
出版地 東京
出版者 技術評論社
出版年 2025.6
頁数・図版 517p
大きさ 21cm
ISBN 4-297-14909-3 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks
ISBN(新) 978-4-297-14909-3
本体価格 3600
NDC分類(8版) 007.61
NDC分類(9版) 007.61
件名 ソフトウェアテスト
著者紹介 開発者、コンサルタント、テストエンジニア、QAエンジニアなど様々な立場で様々なソフトウェアテストの業務に携わる。現在は車メーカーでテスト/QAテックリードとしてテスト/QA活動に従事。JSTQB技術委員、テスト設計コンテストU-30クラス初代審査委員長。(本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです)

※内容紹介、著者紹介は(株)日販図書館サービスおよび
(株)トーハンのデータです。