副島 啓義/著 -- 日刊工業新聞社 -- 1987.02

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所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 帯出区分 状態
書庫一般 433.5 /ソエ/ 00102392805 図書 貸出可 利用可 iLisvirtual

資料詳細

マーク種別 JPマーク
マーク番号 87022362
書名 電子線マイクロアナリシス
書名ヨミ デンシセン マイクロアナリシス
副書名 走査電子顕微鏡,X線マイクロアナライザ分析法
著者名 副島 啓義 /著  
著者名ヨミ ソエジマ ヒロヨシ  
出版者 日刊工業新聞社
出版年 1987.02
頁数・図版 597,5p
大きさ 27㎝
ISBN 4-526-02100-8 国立国会図書館 カーリル GoogleBooks WebcatPlus
本体価格 15000円
NDC分類(8版) 433.5
件名 エックス線分光分析
内容細目 引用・参考文献:p592~597

※内容紹介、著者紹介は(株)日販図書館サービスおよび
(株)トーハンのデータです。